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PHY-DOTA-2025-14

Métrologie à haute résolution de métasurfaces : développement d'une technique originale de détermination de la phase à l'échelle submicronique

Palaiseau

Thématique(s):

Optoélectronique : photodétection et nanophotonique

metasurfaces

Instrumentation astronomique

PISTIL

Métrologie

Phase Shifting Interferometry

Interférométrie

Autre

À Pourvoir

PHY:

dsd-phy@onera.fr

Contact:

cindy.bellanger@onera.fr